Inspektionswerkzeuge für höchste Qualitätskontrolle in der Chipherstellung
Die Qualitätsstandards der Halbleiterindustrie erfordern eine hohe Präzision und eine 100-Prozent-Inspektion in einem schnell laufenden Prozess. Besonders die Backend-Prozesse in der WLCSP-Produktion unterliegen mehr und mehr der Null-Fehler-Politik. Mühlbauer bietet eine breite Palette von Vision-Inspektionsfunktionen, um höchste Qualität zu liefern.
Mühlbauer SIDEWALL Inspektion
Mühlbauer freut sich, die Einführung einer weltweit einzigartigen visuellen Inspektionsfunktion namens SIDEWALL-Inspektion bekannt geben zu können. Dabei werden alle vier Seitenwände eines Chips inspiziert, was zu einem noch nie dagewesenen Grad an täglicher Nettoleistung führt. Die neue Seitenwandinspektion ist für Mühlbauers Die-Sortiersysteme DS 15000 und DS 20000 sowie DS Variation verfügbar. Defekte bis zu 10µm können erkannt werden. Feld-Upgrades für bestehende DS 15000 Systeme können auf Anfrage ebenfalls angeboten werden.
NEU: Infrarot-Inspektion
Infrarotlicht in der Seitenwand / Rückseiteninspektion
Sichtbares Licht: sieht nur Oberfläche
Infrarot Licht: Sieht interne Defekte
Wafer-Inspektion
(Inspektion der Die-Oberseite)
Die-on-Fly-Inspektion
Pre-Place-Inspektion
(Taschenposition)
Post-Place-Inspektion
(Die-Rrückseiten-Inspektion)
Inspektion nach dem Versiegeln