- hochpräzise optische Messung von Position und
Größe
- Kontaminierung der Chipunterseiten-Oberfläche
(abhängig von der Kleberart und Kontrast)
Optional kann eine elektrische Teststation für ATR- und Funktionstest integriert werden. Alle Ergebnisse werden für eine statistische Analyse gespeichert. Das integrierte Statistikpaket erlaubt eine Langzeit-Prozesskontrolle, zusammen mit allen notwendigen Informationen für QAM-Systeme. Fehlerhafte IC-Module werden durch ein gestanztes Ausschuss-Loch markiert.